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福祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shù)字電橋LCR測試儀操作說明
日期：2012-07-20瀏覽：13496次
福祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shù)字電橋LCR測試儀操作說明
儀器面板按鍵
【LOCAL】 從遠(yuǎn)程控制切換到面板操作，正在通信時(shí)請不要按此鍵，以免通信發(fā)生錯(cuò)誤。
【INTERFACE】通過IEEE-488或RS-232接口進(jìn)行遠(yuǎn)程控制儀器時(shí)的參數(shù)設(shè)置。
【AUTO】自動測量模式 屏幕上顯示首項(xiàng)和第二項(xiàng)參數(shù)，串/并聯(lián)等效電路。
【SER/PARA】選擇串聯(lián)或并聯(lián)測試模式 并聯(lián)模式（Lp、Cp） 采用恒壓方式測量；而串聯(lián)模式（Ls、Cs） 采用恒流方式測量。測量時(shí)顯示等效電路圖為單個(gè)元器件，如 ，則該元件呈純阻抗性。
【AVERAGE】增大平均時(shí)間指數(shù)以減小測量數(shù)值波動。再次按此鍵，顯示初始設(shè)置的平均時(shí)間指數(shù)。有三個(gè)平均時(shí)間等級可選（PM6304只有一個(gè)等級可用），或關(guān)閉不用此功能。
【RCL POSITION】選擇阻抗或容感抗作為首項(xiàng)顯示。當(dāng)選擇了該設(shè)置，第二行測量值前顯示“DOMINANT”，即元件的標(biāo)稱值。
【DEVIATION SET REF】設(shè)置測量值偏差，AUTO→ DEV→按旋鈕選擇偏差值→再按一次DEV。顯示的偏差百分?jǐn)?shù)＝（測量值－設(shè)置的偏差）/測量值，為負(fù)數(shù)證明設(shè)置的偏差大于測量值。
【BIN SORT】元件分級。具體見后面介紹。
顯*號表明測量數(shù)值超出基本精度。
【＠/Z】相角/阻抗（復(fù)合阻抗）。 在理想狀態(tài)下，相角（θ）在純電阻下是0°，在純電容下是-90°，純電感則為+90°。在測量時(shí)，出現(xiàn)一個(gè)負(fù)的電抗值，為呈容抗的元件。
【Q/D】顯示品質(zhì)因數(shù)/損耗因數(shù)。
【Vx/Ix】加在測量元件上的電壓/電流。
【HI LEVEL/ NORMAL /LOW LEVEL】測試信號源 高電平交流有效值（方均根值）或直流2V，400歐的內(nèi)阻。常用電平交流有效值（方均根值）或直流1V，內(nèi)阻100歐。低電平交流50 mV或直流300mV，內(nèi)阻100歐。PM6304只可選這三個(gè)等級的測試電平，對應(yīng)于PM6306的AC 50mV-2V測試信號源。
【FRQ】選擇50Hz-1MHz測試信號頻率，PM6304的該鍵每按一次切換一個(gè)量程。
【INT /EXT /OFF】選擇內(nèi)部0V-10V直流偏壓（PM6304只有2V可選）；或外部直流偏壓（zui大DC40V）。不加直流偏置時(shí)按OFF。直流偏置電壓可用來測試電解電容和PN結(jié)等器件。
【DC AC】DC選擇50mV-2V直流測試電平（需PM9565直流測量選件，且長按DC鍵2秒鐘，測量目的是進(jìn)行交直流特性的對比）；AC選擇50mV-2V交流測試電平。這屬于PM6306的AC測試信號源，對應(yīng)于PM6304的三個(gè)等級測試電平。
比如測量電解電容，按AC鍵利用旋鈕選擇交流測試電平1V～2V，選好后再按一次AC鍵確認(rèn)所選的值；再按INT鍵用旋鈕選擇直流偏壓1V或更大，zui后再次按INT確認(rèn)數(shù)值。或按EXT鍵通過儀器后面板加較高的外部直流偏壓。
加偏置進(jìn)行測量過程中屏幕閃爍“over”證明儀器識別所加在被測件的偏置電平過高，應(yīng)減小值再進(jìn)行測量。
【STORE/RECALL】存儲或調(diào)用儀器設(shè)置（9個(gè)存儲），注意：存儲的只是測量條件（如測量頻率，電平，偏置電壓），而不是測試結(jié)果。
【STEP/ + - 】設(shè)置數(shù)值。
【FIXTURE SET】夾具設(shè)置。測量時(shí)應(yīng)考慮測試夾具的雜散電容，選擇匹配的測試夾參數(shù)設(shè)置才能測量出器件本身的真正值，特別是測試信號頻率﹥20KHz時(shí)。如果選用PM9542SMD,SMD適配器測試盒；PM9541B 4線開爾文夾；PM9540/TWE,SMD鑷子；PM9540/BAN,4線香蕉插頭測試線時(shí)，存在300pF雜散電容，由n=Cground/100pF得知選SET-C 3。不用特殊測試夾具，僅用配帶的測試位夾時(shí)選擇SET-C 0。
【CONT/SINGLE】單次或連續(xù)測量。單次測量時(shí)，儀器處于待命狀態(tài)，按TRIGGER觸發(fā)鍵一次則測量一次，測量數(shù)值保持不變，直到下一次測量為止。啟用分級功能時(shí)，設(shè)置單次測量模式。
【TRIGGER】單次測量觸發(fā)信號。
【CONTACT CHECK】檢查附件夾具連接是否良好，如果連接良好，按下此鍵屏幕顯示PASS；當(dāng)顯示FAIL時(shí)，連接不良，按AUTO鍵中止檢查，重新檢查設(shè)置。
【ZERO TRIM】開路/短路歸零。
如果測試條件不斷改變，選擇全校零操作，即選TRIM A依照如下步驟進(jìn)行調(diào)零：
1．按ZERO TRIM，用旋鈕選TRIM A（如果使用同樣測試條件測量，連續(xù)使用儀器時(shí)每隔4小時(shí)也需選擇TRIM I進(jìn)行調(diào)零）
2．再按一次ZERO TRIM鍵，屏幕顯示閃爍“BUSY Oct”，提示將測試夾開路，開始15秒倒數(shù)計(jì)時(shí)開路調(diào)零（間隔調(diào)零不用15秒，直接開路調(diào)零緊接著短路調(diào)零，具體依照操作）
3．上一步結(jié)束后，屏幕顯示閃爍“BUSY Sct”，即提示將測試夾具短接，再按一次ZERO TRIM鍵，15秒倒數(shù)計(jì)時(shí)后，微調(diào)成功，屏幕出現(xiàn)“PASS”，反之顯示失敗“FAIL”。
測量演示
1．正確開機(jī)自檢結(jié)束后，將測試夾具插入，按【CONTACT CHECK】檢查其連接是否良好；
2．按【FIXTURE SET】進(jìn)行測試夾具設(shè)置，使用測試線夾具時(shí)選擇SET-C 3，僅用測試位夾時(shí)選擇SET-C 0；
3．按【FREQ】，【AC】，選取測量頻率，測量電平；如果測電解電容時(shí)按 【INT】另加內(nèi)部直流偏置電壓；
4．按【ZERO TRIM】進(jìn)行調(diào)零（切記：設(shè)置好一切后才調(diào)零）；
5. 接入元件按【AUTO】進(jìn)行測量，在測量孔插入一個(gè)已知的元件，比如一個(gè)1K的電阻，屏幕顯示
此元件為純阻抗電阻；
6.按 [＠/Z] ，[Q/D]， [Vx/Ix] 查看被測元件的相角/阻抗，品質(zhì)因數(shù)/損耗因數(shù)，電平/電流。
測量條件參考：
元件規(guī)格 測量頻率 測量方式 備注
電容<200pF >100KHz 并聯(lián)
電容≥1μF（非電解電容） 100Hz 并聯(lián)
電容≥1μF（電解電容） 100Hz 串聯(lián) 另加直流偏置，比如1V
電感＜100nH >100KHz 串聯(lián) 視情況加直流偏置
電感≥1H 100Hz 并聯(lián) 測量電平AC要低，如低至50mV。
電阻＜100Ω 1kHz 串聯(lián)
電阻≥10KΩ 1KHz 并聯(lián)
其他元器件測試選用一般測試條件進(jìn)行測試：電平AC選取1V，頻率選取1KHz，使用自動測量模式。
（福祿克FLUKE PM6306/PM6304數(shù)字電橋LCR測試儀操作說明）
產(chǎn)品分類
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測儀
- 國產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
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- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測試
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- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
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- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
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- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測試
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- 長盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測試
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